太陽能雙85濕熱試驗箱所滿足的標準

.asLi. 

一、

濕熱試驗箱適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備。ASLi濕熱試驗箱采用進口溫濕度控制器，箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。試驗箱底部采用可固定式PU活動輪。

濕熱試驗箱滿足的標準：

  GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法

  GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

  GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

  GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》

  GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411濕熱試驗

  GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》

  GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》

  GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》

  GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗

  GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

  GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》

二、

雙八五濕冷凍試驗箱適用于電工電子、儀器儀表及其他零部件、材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、使用的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電感、PCB、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

雙八五濕冷凍試驗箱滿足標準：

雙八五濕冷凍試驗箱性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求:

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-89 （IEC68-2-1）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89 （IEC68-2-2）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

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